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當前位置:泰西(北京)精密技術有限公司>>三維掃描儀>> CMM三維掃描儀:METRASCAN 光學式三維掃描儀
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更新時間:2024-10-05 20:37:59瀏覽次數(shù):406次
聯(lián)系我時,請告知來自 機床商務網(wǎng)便攜式光學 CMM 3D 掃描儀 MetraSCAN 3D 可有效應對不一致性問題,讓用戶不再受成本增加、生產(chǎn)及部件審批延誤的困擾。該系統(tǒng)可用于對生產(chǎn)工具、夾具、配件、半成品或成品進行逆向工程和尺寸檢測,具有超高的體積精度。
MetraSCAN 3D 光學 CMM 采用光學測量方式,使得測量精度不易受環(huán)境變化的影響,因此成為車間質(zhì)量控制計量的*解決方案。它無需固定測量設置,無論環(huán)境發(fā)生何種變化都不會影響其性能水準。
可幫助操作人員更好地管理生產(chǎn)過程,更快速地滿足制造業(yè)對質(zhì)量控制 (QC)的更高要求,同時絲毫不會影響生產(chǎn)效率。
MetraSCAN 3D 光學 CMM 的測量范圍可以擴展,測量速度驚人,且對復雜材料的數(shù)據(jù)采集能力令人驚嘆,是市場上全面的計量級 3D 掃描儀。它還配備可配對兼容的探測系統(tǒng)供用戶選擇。在車間環(huán)境中實現(xiàn)真正的質(zhì)量控制。
功能特點
新增功能:
精度提高 1.5 倍
采用多條激光十字線,速度提高 12 倍
重量減輕 25%
可掃描任何材料,甚至可掃描黑色、彩色和發(fā)亮表面
測量范圍大范圍增加
設計結實耐用,確保車間硬件使用的可靠性
具有多功能按鈕,與軟件交互更為簡便
更準確
計量級測量:有超高的精度和分辨率,更有較高的重復性及可追蹤認證
動態(tài)參考:通過光學反射器準確到幾微米產(chǎn)品一個“鎖定"到部件本身的參照系,用戶因而可以在測量過程中隨意移動對象
有超高的體積精度
可準確測量多種部件尺寸
現(xiàn)場校準步驟簡便,精度不受時間影響
更便攜
無需固定設置:測量過程中可隨時自由移動部件和系統(tǒng)
多功能 3D 掃描:可掃描任何材料,甚至可掃描黑色、彩色和發(fā)亮表面
測量范圍更寬廣并易于擴展
自動對齊:借助光學反射器可實現(xiàn)重復檢測而無需重新對齊
新增HandyPROBE Next,有多種探測功能可供用戶選擇
具有多功能按鈕,與軟件交互更為簡便
學習周期短,操作直觀
加速度
市場上比較快的 3D 掃描儀:比上一代產(chǎn)品快12倍
測量速度在所有激光掃描儀中位居前列
自動網(wǎng)格輸出:即用型文件,采集完成后立即可用
快速的工作流集成:從物理對象到設計或檢測工作流的快捷途徑
更簡便
便于在車間環(huán)境中使用
輕質(zhì):重量在1.38kg以下
便攜式 CMM:可輕松進入部件所在的任何位置
無臂式光學掃描系統(tǒng)
應用:
檢測和質(zhì)量控制
部件至 CAD 分析
*和供應商質(zhì)量檢測
針對 3D 模型與原始部件或生產(chǎn)工具的一致性評估
針對制成部件與原始部件的一致性評估
對齊
工具認證
多點測量
與 MetraSCAN 3D 結合使用時,可實現(xiàn)全自由形態(tài)檢測并生成高密度色圖。
逆向工程
幾何實體的逆向工程(球面、柱面、平面)
與 MetraSCAN 3D 光學 CMM 掃描儀結合使用時,可對混合部件(幾何與自由形態(tài))執(zhí)行更快更準確的逆向工程
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